OMS材料物理光學(xué)屬性測(cè)量?jī)x
OMS2材料物理光學(xué)屬性BRDF測(cè)量?jī)x,用于測(cè)量光學(xué)材料表面BRDF光學(xué)屬性以及材料體光學(xué)屬性,測(cè)量出的數(shù)據(jù)經(jīng)過OMS2數(shù)據(jù)處理軟件的擬合,得出.BRDF格式的文件,這些文件都攜帶了材料的表面光學(xué)屬性和體光學(xué)屬性。這些數(shù)據(jù)文件可在OMS2支持軟件中直接讀取,在OMS2支持軟件的協(xié)助下完成雜散光仿真分析處理。國(guó)內(nèi)外用戶有拜爾材料、洛克希德馬丁、NASA、三星、LG、航天508所、中航工業(yè)上海航空電器有限公司等。
設(shè)備組成
OMS材料物理光學(xué)屬性測(cè)量?jī)x
OMS2材料BRDF光學(xué)屬性高精測(cè)量系統(tǒng)由OMS2測(cè)量?jī)x、數(shù)據(jù)處理工作站、OMS4數(shù)據(jù)處理軟件。
?
注:B2DF的解釋
雙向反射分布函數(shù)(Bidirectional Reflectiondistribution function, BSDF)是研究物體表面粗糙度之光學(xué)性質(zhì)。由于物體表面上有凹凸不平的微小表面,一束入射光線射到表面而產(chǎn)生反射現(xiàn)象,用BRDF 來表示這種反射(散射)現(xiàn)象。其中雙向(Bidirectional)系指入射光與接受散射光的方向,因不同的入射光角度所產(chǎn)生的散射性質(zhì)亦不相同。BRDF 主要應(yīng)用在計(jì)算機(jī)仿真物體表面明亮度,與真實(shí)人眼所看物體之明亮度相符;另外可應(yīng)用在背光模塊之光學(xué)模擬,例如擴(kuò)散膜之散射性質(zhì)。
測(cè)量波段
OMS2測(cè)量系統(tǒng)可獲得測(cè)量、提取材料在可見光以及近紅外波段的光學(xué)屬性,具體測(cè)量波段是400nm—670nm
測(cè)量結(jié)果
(1)材料表面光學(xué)屬性BRDF
a. 材料BRDF點(diǎn)陣數(shù)據(jù)
在使用OMS2測(cè)量材料時(shí),儀器中的光電倍增管(PMT)在2π空間內(nèi)接受樣品反射以及透射的光能量數(shù)據(jù),因此測(cè)量后會(huì)得到離散型的點(diǎn)陣數(shù)據(jù)。
b. 材料BRDF文件數(shù)據(jù)
離散型數(shù)據(jù)直接被使用于軟件仿真并不精確,所以所得的離散型數(shù)據(jù)必須經(jīng)過數(shù)據(jù)處理才可使用,OMS2系統(tǒng)的工作站中帶有由OPTIS研發(fā)出來的數(shù)據(jù)處理系統(tǒng),經(jīng)過OMS2數(shù)據(jù)處理軟件的數(shù)據(jù)擬合、處理可得出精確的可直接使用.BRDF格式的文件
結(jié)果中可以查看光的不同入射角度,以及不同波長(zhǎng)時(shí),光在材料表面反射、吸收的參數(shù),并且還可查看反射的光型。
(2)OMS2數(shù)據(jù)處理軟件
OMS2數(shù)據(jù)處理軟件內(nèi)含有OPTIS大量材料屬性數(shù)據(jù)庫,可對(duì)采集到的離散型數(shù)據(jù)進(jìn)行處理擬合,生成.BSDF格式的材料面光學(xué)屬性文件,以及.Material格式的材料體光學(xué)屬性文件。生成的材料光學(xué)屬性文件可在OMS2支持軟件中使用。